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厚度
普申磁性測(cè)厚儀
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普申磁性測(cè)厚儀
本儀器采用了磁性測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非金屬覆蓋層的厚度.當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法
JB/T 8393─1996 磁性覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量原理 | 電磁式（磁性基底） |
測(cè)量范圍 | 0-1250 um |
測(cè)量精度誤差 | 零點(diǎn)校準(zhǔn)：±（1+3%H） |
藍(lán)牙APP功能 | 多次測(cè)試最大值、最小值、平均值，可存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，生成報(bào)表 |
五點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[(1%+3%H)]H+1.5 |
最小基體 | 10mm*10mm |
最小曲率 | 凸：5mm 凹：5mm |
最薄基體 | 0.4mm |
儀器重量 | 115g（帶電池） |
儀器尺寸 | 110mm*65mm*30mm |
訂購編號(hào)
PS 2633/1 | 普申磁性測(cè)厚儀 |
裝運(yùn)清單
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